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CMOS电路－模拟集成电路
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CMOS集成电路单粒子效应的建模与加固
本书针对CMOS集成电路中主要的三种单粒子效应失效模式SEU、SET和MBU，分别从建模和加固两个方面对进行了研...
2015.9
按中图号分类
中图号G634
23262
中图号G624
13502
中图号G613
5627
中图号I247.5
5266
中图号I267
3922
中图号I227
3213
中图号G613.3
2565
中图号I287.8
2291
中图号J222.7
2112
中图号G613.6
1806
中图号G624.243
1744
中图号H31
1738
中图号G624.203
1530
中图号G898.2
1491
中图号G613.2
1417
中图号G624.753
1371
中图号J228.2
1331
中图号I287.45
1288
中图号I287.7
1274
中图号I217.2
1191
按出版社分类
科学出版社
3987
清华大学出版社
3682
机械工业出版社
3559
人民邮电出版社
3422
化学工业出版社
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3223
高等教育出版社
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2677
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2612
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中国社会科学出版社
2003
黑龙江美术出版社
1990
中国文史出版社
1949
中国人民大学出版社
1911
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1860
外语教学与研究出版社
1838
上海交通大学出版社
1834