书籍简介:

本书由法国TIMA实验室的Raoul Velazco、法国波尔多第一大学的Pascal Fouillat和巴西南里奥格兰德联邦大学的Ricardo Reis共同编著，从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面全面详细介绍了嵌入式系统中的辐射效应，主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。本书内容全面、丰富且针对性强，覆盖了电子器件及系统辐射效应的方方面面。区别于其他电子系统辐射效应论著，本书从工程化的角度论述空间辐射效应评估、地面模拟、软错误率预计等技术以及国际上目前先进的研究方法论，同时兼具基础性和理论性。本书适合专业从事电子器件及系统辐射效应研究的科研人员和工程化应用的技术人员阅读和借鉴；同时，也可为该领域的“新人”（如研究生）提供必备的基础知识。

书籍规格:

书籍详细信息
书名	嵌入式系统中的辐射效应站内查询相似图书
丛书名	国际电气工程先进技术译丛
	9787111582861 如需购买下载《嵌入式系统中的辐射效应》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN
出版地	北京	出版单位	机械工业出版社
版次	1版	印次	1
定价(元)	59.0	语种	简体中文
尺寸	24 × 17	装帧	平装
页数	233	印数	2500

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书籍信息归属:

嵌入式系统中的辐射效应是机械工业出版社于2017.9出版的中图分类号为 TP360.21 的主题关于微型计算机－系统设计的书籍。